XRF分析仪作为精密元素分析仪器之一，功能十分强大，测试范围从Na(11)到U(92)，其被广泛应用于工业、航天、环保、农业等领域。XRF元素分析仪具有诸多优点，包括操作便捷、样品无损检测、测试样品可以是任何形状等等。

 

日常使用中，XRF分析仪在分析元素时，经常会出现同一个样品检测的精度不一样的现象，多数操作者多一位是仪器出现故障。其实不然，那么XRF这款精度仪器在使用过程中，会受到那些因素的影响而导致结果出现偏差。

 

   时 间   

 

一般来说，检测的时间越长，精度就越精确，ROHS分析仪30~600秒；合金分析仪10~60秒；矿石分析仪：30~90秒。

 

    均 质    

样品一定要均匀，尽量不要出现凹凸不平，凹凸的样品很容易出现偏差。样品最好额平面放在某处。

 

    材 质    

不同的物质结果不一致，那是肯定的就算同是合金材料也分铁、铝、镁等不同元素组成。

 

    粒 度    

被检测的样品越小越好，样品大小和仪器的显示屏差距不大是最好，如果检测样品过于庞大，比较容易出现样品元素组成不一样，导致元素的含量与成分结果就不一样。

 

     厚 度    

XRF分析仪，有个很明显的特点，就是对样品的厚度有一定限制，特别是很多合金样品可能会在材料商涂层铜、金属、塑胶，这个时候检测材质需要对样品的表层进行处理，才能保证检测结果的精确。

 

合金材料的最佳检测厚度：

 

聚合物与轻合金固体5MM

 

其他合金1MM;

 

液体15MM;

 

湿度:干燥;

 

元素干扰;

 

样品中测试元素的特征谱线的强度会受到其它元素的干扰;

 

典型的干扰如下：

 

镉：可能的干扰来自溴，铅，锡，锑

 

铅：可能的干扰来自溴

 

汞：可能的干扰来自溴，铅，以及样品中高浓度的钙和铁

 

铬：可能的干扰来自氯

 

溴：可能的干扰来自铁及铅